Semiconductor Engineering 芯片与封装· Ben Mitchel·· 4 小时前AI 评分20
Teradyne Titan HP 平台:面向 AI 与数据中心的系统级测试观察
Perspectives On Test: System Level Test For AI & Data Centers
AI 导读
Teradyne 整合系统测试部门高级总监 Ben Mitchel 谈系统级测试为何在 AI 与数据中心设备量产中变得至关重要。这些设备采用多 chiplet 设计、功耗达数千瓦,需在真实条件下测试。Titan HP 平台可提供此类设备所需的功率、热管理与吞吐能力。
正文 · AI 翻译
在真实世界条件下测试每一台设备从未像现在这样重要。
随着 AI 和数据中心设备的复杂度不断提升——采用多芯粒设计和数千瓦的功耗范围——在真实世界条件下测试每一台设备从未像现在这样重要。
集成系统测试产品管理与业务发展高级总监 Ben Mitchel 探讨了为什么系统级测试如今在大批量制造中至关重要,以及 Teradyne 的 Titan HP 平台如何提供 AI 和云基础设施设备所需的功率、热管理和吞吐量。
Ben Mitchel
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Ben Mitchel 是 Teradyne 产品营销与业务发展高级总监,负责公司测试解决方案的市场战略与业务增长。Mitchel 在工程、产品线管理、销售和综合管理方面拥有 30 年经验,曾在 Teradyne、Asterion、SatCon Power Systems 和 Sycamore Networks 担任高级职务。他拥有伍斯特理工学院电气工程学士学位和马萨诸塞大学阿默斯特分校 Isenberg 管理学院 MBA 学位。
来源:Semiconductor Engineering 芯片与封装 · semiengineering.com