近阈值设计边缘 AI SoC:Foundation IP 如何帮助突破功耗墙
Designing Edge AI SoCs At Near-Threshold: Why Foundation IP Can Help You Break Down The Power Wall
边缘 AI SoC 正转向近阈值运行(约 0.4–0.5V)以提升每瓦性能,但会带来延迟非线性增长、 variability 加剧、噪声容限缩小等挑战。
降低工作电压是 SoC 功耗优化的关键。在约 0.4–0.5V 的先进 FinFET 工艺下,这也可能开始成为一种设计风险。随着边缘 AI 将推理推向更靠近端点的位置,边缘 AI SoC 必须在严格的能耗和散热限制下提供实时性能。传统的电压缩放已不再足够。
SoC 设计正转向更广泛地使用近阈值操作,以实现每瓦性能的阶跃式提升。但这种转变从根本上改变了芯片的行为:延迟呈非线性增长,波动性显著加大,而支撑可预测的操作成为最小化功耗的关键前提。
在这一工作区间内取得设计成功,很大程度上取决于基础 IP 的底层质量、建模精度,以及与 EDA 流程和硅片验证的集成度。必须谨慎选择嵌入式存储器、逻辑库和 I/O,并在早期阶段执行所有目标优化并完成充分验证——而不是将其视为下游的可选方案。
近阈值下会发生什么变化
每位 SoC 设计师都明白,降低供电电压可以减少能耗——但在接近阈值电压时,它会改变晶体管行为,并挑战传统的设计假设。

图 1:较低电压下能效提升,但在阈值附近延迟和波动性急剧增加。
如图 1 所示,降低电压可减少每次操作的能耗,但伴随着显著的权衡:延迟快速增长,波动性增加,噪声容限缩小。
在这一区间内:
- 时序路径对微小的电压波动变得高度敏感
- IR 压降和局部电压骤降成为一阶效应
- 保护带(guard-banding)变得不那么有效
- 标称电压模型不再能准确预测行为
电压缩放不再是一项孤立的优化——它在整个设计栈中引入了紧密耦合的挑战。
基础 IP:决定差异化的层次
在超低电压下达到功耗目标还不够;设计必须以可预测的方式实现这一点,且不引入额外的硅片风险。这正是基础 IP 从附带的支持要素转变为设计成功重要组成部分的地方。逻辑库、存储器编译器和 I/O 的质量可以直接决定设计收敛的稳健性和硅片结果。
一个统一的、经硅片验证的基础 IP 平台——与 EDA 流程紧密耦合,采用最精确的建模和表征方法构建,并在硅片上经过细致验证——提供了在超低电压下实现 PPA 获胜设计所需的精度和一致性,从早期设计到签核都能保持可靠的行为。
嵌入式存储器:电压下限所在
存储器是面积和功耗的主要贡献者——如果未在架构上解耦,它往往决定系统的最低工作电压(Vmin)。这可以通过灵活的架构来解决:
- 带有经硅片验证的辅助特性的单轨存储器支持低至约 600 mV Vmin 的操作,可在不打乱架构的情况下直接实现 V² 能耗降低
- 双轨存储器将逻辑与存储器电压解耦,允许计算模块进行更深入的缩放。如图 2 所示,该方案已在 ISSCC 2025 上得到验证,采用 3nm FinFET 工艺、工作电压为 380/540 mV 的 38 Mb/mm² 双轨 SRAM
- 超低功耗寄存器堆支持在计算密集区域进行本地化数据存储

图 2:双轨存储器架构将逻辑与存储器的 VDD 解耦,并在 ISSCC 2025 上得到验证:采用 3nm FinFET,在 380/540 mV 电压下实现 38 Mb/mm² 的 SRAM。
不同的 AI 子系统需要不同的存储器策略:MAC 计算单元适合小型分布式 SRAM 块;激活单元适合带宽数据通路的 ULP RF;共享系统缓冲区则适合高带宽 AXI 接口。
逻辑库:在最关键之处保证精度
逻辑库必须专门针对低电压工作进行设计:
- 先进的表征手段,例如基于矩的 LVF 时序与噪声模型,覆盖宽范围的 PVT 区间
- 能够捕捉近阈值非线性敏感性的延迟与转换时间(slew)模型
- 增强的验证检查——包括 MIS 效应、脉宽完整性、偏斜交互以及混合器件行为——以应对噪声容限的降低
- 有针对性的硅片验证,包括扩展的时序与功能扫描,以确保模型精度
这种建模精度至关重要,可避免低电压签核过程中出现意外情况,或硅片上出现时序失败。
I/O:不要让外围电路拖累内核
在许多设计中,I/O 域决定了系统级 Vmin。如果 I/O 无法在降低的电压下可靠工作,那么无论内核优化得多好,近阈值逻辑的优势都会被阻挡。
该产品组合涵盖控制接口(GPIO、I3C/I2C、SWI3S)、高速数据链路(LVDS、RGMII)、时钟与参考输入、存储接口(SD/eMMC)、测试 I/O 以及面向 chiplet 系统的 2.5D/3D 集成 I/O——每一项都经过验证,可在不同供电电平下保持一致的工作状态。
协同优化:仅靠标准 IP 有时还不够
要在约 0.4–0.5V 下实现可预测的优化运行,需要在 Foundation IP、EDA 工具、建模和硅片验证之间实现紧密对齐。

图 3:闭环方法学将 Foundation IP、工具与硅片反馈对齐,确保优化的低电压设计。
如图 3 所示,最优的低电压设计依赖于一个迭代的、闭环的支持流程:
- 早期探索 PPA 权衡,并进行具体的电压目标设定
- 选择合适的 IP 架构、工艺选项与配置,可能还需进行特定的单元调优
- 针对低电压条件优化流程与签核
- 来自硅片验证的反馈,持续提升精度并增强信心
在客户设计合作过程中,Synopsys 应用工程师架起了 IP/EDA 研发专家与 SoC 设计师之间的桥梁,确保各项特性得到充分运用、各项技术得到最优部署。工具与 IP 的协同优化使器件物理特性、建模假设与硅片结果紧密耦合——将近阈值设计转变为低风险、可投产的解决方案。
实证:功耗降低约 20%,且不影响项目进度
一款功耗敏感、采用先进工艺节点并面向大批量生产的 AI 网络交换 SoC,采用近阈值设计,需要专业的技术支持,以便在非常紧凑的项目周期内支持极低的工作电压。其 Foundation IP 解决方案包括经过专门调优的低电压逻辑单元、定制电平转换器、定制双轨存储器编译器,以及专门设定的 PVT corner 集合,所有这些均经过精心挑选,以通过近阈值签核实现最佳设计权衡与最优功耗效率。
结果如下:
- 功耗降低约 20%
- 全面达成性能与面积目标
- 对进度无影响
- 降低验证复杂性,同时避免重新流片
关键成果:无需承担进度或硅片风险的可预测执行。
对低压应用的端到端支持
Synopsys 提供全面的文档、设计评审、PPA 调优会议以及直接的应用工程支持。DTCO 和 PPA 探索帮助客户选择最佳的 IP 配置,而定制表征服务则可扩展该平台以满足特殊需求。
前进之路
随着边缘 AI 工作负载的激增,支持近阈值运行已成为实现功耗优化的 SoC 设计的核心需求。Synopsys Foundation IP 解决方案——逻辑、存储器和 I/O——提供了这一工作区间所需的架构严谨性、建模精度和严格的硅片验证。广泛的产品组合,加上以设计一致性实现的大量 IP 集以及对宽电压范围的支持,简化了 IP 复用,使产品在工艺代际和代工厂之间的迁移更加容易。
尽早与 Synopsys 合作,定义最佳电压目标,选择合适的 Foundation IP 配置,并建立针对您的产品目标量身定制的低压就绪方法论。功耗墙是真实存在的——但并非不可逾越。
要了解更多信息,请阅读白皮书“用低压 Foundation IP 击败边缘 AI 功耗墙”。要探索完整的 Foundation IP 产品,请访问我们的网页。
来源: Semiconductor Engineering 芯片与封装 · semiengineering.com