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业界探讨CPO多站点测试扩展路径
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AI 综述
2026年10月21日,Semiconductor Engineering 报道 Teradyne、Advantest、ISE Labs 和 Keysight 的专家讨论了 CPO 光引擎测试从单点位向多点位扩展的路径。专家指出,光纤对准是当前 CPO 测试的主要瓶颈,multi-site 探针卡有望显著缓解这一问题;Technoprobe 等公司在探针卡领域的进展带来了一些希望。目前该话题处于业界技术讨论阶段,尚无具体落地或后续进展的报道。
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最新进展10月21日 15:01
专家讨论CPO多点位测试扩展,光纤对准是瓶颈,multi-site探针卡被寄予希望。报道时间线
沿着报道,了解事件的不同侧面。
10月21日
- Semiconductor Engineering 芯片与封装CPO 测试如何突破单颗芯片限制
Teradyne、Advantest、ISE Labs 和 Keysight 的专家讨论了 CPO 光引擎测试从单点位向多点位扩展的路径。光纤对准是当前测试的主要瓶颈,multi-site 探针卡有望显著缓解这一问题;Technoprobe 等公司在探针卡领域的进展带来了一些希望。
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