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业界探讨CPO多站点测试扩展路径

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AI 综述

2026年10月21日,Semiconductor Engineering 报道 Teradyne、Advantest、ISE Labs 和 Keysight 的专家讨论了 CPO 光引擎测试从单点位向多点位扩展的路径。专家指出,光纤对准是当前 CPO 测试的主要瓶颈,multi-site 探针卡有望显著缓解这一问题;Technoprobe 等公司在探针卡领域的进展带来了一些希望。目前该话题处于业界技术讨论阶段,尚无具体落地或后续进展的报道。

AI 根据报道生成 · 2 小时前更新

报道时间线

沿着报道,了解事件的不同侧面。

10月21日
  1. Semiconductor Engineering 芯片与封装
    CPO 测试如何突破单颗芯片限制

    Teradyne、Advantest、ISE Labs 和 Keysight 的专家讨论了 CPO 光引擎测试从单点位向多点位扩展的路径。光纤对准是当前测试的主要瓶颈,multi-site 探针卡有望显著缓解这一问题;Technoprobe 等公司在探针卡领域的进展带来了一些希望。

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