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CPO测试面临目标漂移挑战
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AI 综述
2026年10月8日，Semiconductor Engineering 发布圆桌讨论，聚焦 CPO/NPO 测试面临的挑战。该讨论邀请 Teradyne、Advantest、ISE Labs 和 Keysight 的专家参与。专家讨论指出，CPO 测试正面临连接器与激光源尚未确定的动态变化难题，即测试目标存在漂移。目前报道仅披露该圆桌讨论的举办及上述主题内容，未给出更多具体进展细节。
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最新进展10月8日 15:01
Semiconductor Engineering 圆桌讨论 CPO 测试因连接器与激光源未定而面临动态变化难题。报道时间线
沿着报道，了解事件的不同侧面。
10月8日
- Semiconductor Engineering 芯片与封装Semiconductor Engineering 圆桌：CPO 测试面临连接器与激光源未定的动态变化难题
Semiconductor Engineering 邀请 Teradyne、Advantest、ISE Labs 和 Keysight 的专家讨论 CPO/NPO 测试挑战。
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