西门子Tessent IST结合电压监测区分测试假失败

西门子在芯片测试与监控领域持续扩展其方案。此前，西门子已展示将Tessent In-System Test（IST）与电压监测结合的做法：利用Movellus Aeonic Insight电压骤降传感器与Tessent Embedded Analytics，通过电压感知的可观测性来辅助区分测试中的假失败。2026年10月29日，Semiconductor Engineering报道称，西门子在Veloce proFPGA平台上演示了这一组合方案，将Tessent IST加入其与Movellus Aeonic Insight电压骤降传感器、Tessent Embedded Analytics结合的监控演示，把能力从功能监控扩展到在系统测试，展示电压感知可观测性的扩展应用。目前该演示方案已在上述平台上呈现，尚未见量产部署的进一步报道。

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还没有足够的连续观测数据，暂不绘制趋势。